Conferência CIM2015 – 17th International Congresso of Metrology

Data / Hora
Date(s) - 21/09/2015 - 24/09/2015
All Day

Localização
Paris Expo porte de versailles

Categorias

• Eventos

A Conferência CIM2015 – 17th International Congresso of Metrology  tem como objetivos:

1. Explorar os desenvolvimentos mais recentes nas técnicas de medição e a sua aplicação industrial;
2. Reconhecer o valor acrescentado dos métodos de medição como uma função de garantia de qualidade de produtos e processos.

Nas sessões de discussão serão debatidos  temas como:

• A metrologia do futuro;
• Contratualização a terceiros de processo de metrologia;
• Soft metrology;
• Nanotecnologias;
• Requisitos da ISO 9001:2015;
• Segurança e metrologia na indústria alimentar;
• Metrologia na produção de fármacos e cuidados de saúde.

Mais informações acerca do evento AQUI.